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產(chǎn)品中心

應力雙折射測量系統

  • 型 號:WPA-200
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數:4309
  • 更新時(shí)間:2024-03-13
  • 價(jià)   格:

應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù)使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的萬(wàn)能機器,適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。

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WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。 應力雙折射測量系統在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的萬(wàn)能機器,適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。

應力雙折射測量系統WPA-200主要特點(diǎn):

  • 操作簡(jiǎn)單,測量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

  • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀(guān)的讀取數據。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡(jiǎn)單,不含旋轉光學(xué)濾片的機構。

  • *很高的殘余應力測量設備。


主要應用:

· 光學(xué)零件(鏡片、薄膜、導光板)

· 透明成型品(車(chē)載透明零件、食用品容器)

· 透明樹(shù)脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)

· 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石)

· 有機材料(球晶、FishEve)


技術(shù)參數:

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】


2

測量波長(cháng)

520nm、543nm、575nm


3

雙折射測量范圍

0-3500nm


4

測量小分辨率

0.001nm


5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)


6

視野尺寸

218x290mm-360×480mm(標準)


7

選配鏡頭視野

無(wú)選配


8

選配功能

實(shí)時(shí)解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實(shí)現外部控制,CD模式




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