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應力雙折射測量系統
應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的萬(wàn)能機器，適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。
WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。 應力雙折射測量系統在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的萬(wàn)能機器，適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。
應力雙折射測量系統WPA-200主要特點(diǎn):
操作簡(jiǎn)單，測量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
測量數據是二維分布圖像，可以更直觀(guān)的讀取數據。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡(jiǎn)單，不含旋轉光學(xué)濾片的機構。
*很高的殘余應力測量設備。
主要應用：
· 光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導光板）
· 透明成型品（車(chē)載透明零件、食用品容器）
· 透明樹(shù)脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
· 有機材料（球晶、FishEve）
技術(shù)參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長(cháng) | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
7 | 選配鏡頭視野 | 無(wú)選配 |
8 | 選配功能 | 實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實(shí)現外部控制，CD模式 |