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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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ME-210-T膜厚測量?jì)x為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個(gè)裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡?，以往的技術(shù)是無(wú)法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進(jìn)行極薄膜的高精度測量，舉例來(lái)說(shuō)顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運用ME-210-T輕松達成。 -
膜厚測量?jì)x為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個(gè)裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡?，以往的技術(shù)是無(wú)法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進(jìn)行極薄膜的高精度測量，舉例來(lái)說(shuō)顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運用ME-210-T輕松達成。
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