紅外應力雙折射測量系統

• 型 號：WPA-NIR
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• 更新時(shí)間：2024-03-13
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紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x，采用850nm或940nm波長(cháng)，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

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紅外應力雙折射測量系統主要特點(diǎn)：

硫系，紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x，采用850nm或940nm波長(cháng)，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

• 紅外波長(cháng)的雙折射/相位差面分布測量

• 硫系、紅外透明樹(shù)脂等的光學(xué)畸變評估

• 小型、簡(jiǎn)単操作、高速測量

• WPA-NIR能高速的測量/分析波長(cháng)為850nm或940nm的雙折射分布

• 安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View

• 可以自由分析任意線(xiàn)上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據

• 可搭配流水線(xiàn)對應的『外部控制選配』，也可應用于量產(chǎn)現場(chǎng)

紅外應力雙折射測量系統主要功能：

• NIR波長(cháng)僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

• 測量數據的保存/讀取簡(jiǎn)單快捷

• 全部的測量結果都可以做保存/讀取，易于跟過(guò)去的測量結果做比較等

• 豐富的圖形創(chuàng )建功能

• 可以自由制作線(xiàn)圖形和直方圖

• 測量結果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出  

主要參數：

實(shí)際測量對比：